電磁膜厚計	高周波膜厚計
品番	LE-200C	LH-200C
測定方式	電磁誘導式	高周波渦電流式
測定対象	磁性体上の非磁性被膜	非鉄金属上の絶縁被膜
測定範囲	0〜1500μm	0〜800μm
測定精度	15μm未満：±0.3μm／15μm以上：±2％	50μm未満：±1μm／50μm以上：±3％
分解能	100μm未満：0.1μm／100μm以上：1μm	100μm未満：0.1μm／100μm以上：1μm
プローブ	一点接触定圧式（LEP-20）	一点接触定圧式（LHP-20）
表示方法	デジタル（LCD、最小表示桁0.1μm）
電源	AC100V（50/60Hz）または 単３乾電池 本体部×６ プリンタ部×４
寸法（mm）	W120×D250×H55
重量	約1.0kg
付属品	標準板　（１０、５０、１００、３５０、１０００μm　各一枚）
別売オプション	Ｌ字型プローブ（LEP-21）
価格	廃番 後継機種はこちら→M70E-200J	廃番 後継機種はこちら→M70H-200J